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簡(jiǎn)要描述：QVWLI606白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,可根據(jù)WLI光學(xué)系統(tǒng)獲取的3D數(shù)據(jù)進(jìn)行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據(jù)3D數(shù)據(jù)進(jìn)行指定高度的尺寸測(cè)量和截面形狀測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商 更新時(shí)間：2025-06-06訪 問 量：982 產(chǎn)品分類
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QVWLI606白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,可根據(jù)WLI光學(xué)系統(tǒng)獲取的3D數(shù)據(jù)進(jìn)行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據(jù)3D數(shù)據(jù)進(jìn)行指定高度的尺寸測(cè)量和截面形狀測(cè)量。
QVWLI606白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,可根據(jù)WLI光學(xué)系統(tǒng)獲取的3D數(shù)據(jù)進(jìn)行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據(jù)3D數(shù)據(jù)進(jìn)行指定高度的尺寸測(cè)量和截面形狀測(cè)量。
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